МЕТОД ВРАЩЕНИЯ КРИСТАЛЛА
МЕТОД ВРАЩЕНИЯ КРИСТАЛЛА
— способ получения дифракционной картины,
возникающей в монокристалле,
вращаемом около заданного направления при облучении монохроматическими рентгеновыми лучами.
Пленка,
на которой фиксируется дифракционная картина,
называется рентгенограммой вращения. В основу М. в. к.,
разработанного в 1919 — 1922 гг.,
положен принцип спектрометра Брэгга. В зависимости от интервала углов вращения рассматриваемый метод разделяется на: метод полного вращения (кристалл непрерывно вращается во время съемки в одном и том же направлении); метод качания (к-л поворачивается в обе стороны в пределах ограниченного углового интервала).
При помощи рентгенограмм вращения можно определить: 1) элементарную ячейку и трансляционную гр.
к-лов,
для чего необходимо обладать сведениями только об общих закономерностях в расположении интерференционных пятен (расстояние между слоевыми линиями,
характер интерференционных кривых); 2) пространственную гр. к-лов,
для чего необходимо на основе измерений координат интерференционных пятен определить индексы интерференции,
соответствующие пятну,
т. е. произвести индицирование; 3) координаты атомов в элементарной ячейке,
для чего после индицирования необходимо произвести измерения интенсивности интерференционных пятен; 4) ориентировку и симметрию к-лов.
Образец,
используемый для получения рентгенограммы вращения,
должен быть прежде всего монокристаллом,
но не обязательно ограненным,
д.
П. Сальдау.
